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SiC功率元器件的特征有哪些?
SiC与Si相比,绝缘击穿电场强度高约10倍,可达几千V的高耐压,另外单位面积的导通电阻非常低,可降低功率损耗。
Si在高耐压化时导通电阻变大,为了改善这一现象,主要使用IGBT,但这有开关损耗大的问题。
SiC具有优异的高速开关性能。
FAQ ID: 480
SiC-MOSFET并联时,应注意哪些?
・电力配线等若不均等,则电流、芯片温度变得不稳定。
・开关时序若不符合规范,则引起过流、芯片损坏。
・Vgs(on)若不够高,Ron温度特性变为负,在特定芯片中电流集中,有发生热失控遭损坏的危险。
FAQ ID: 485
SiC-MOSFET串联时,应注意哪些?
・上侧元器件接地绝缘只能保证绝缘耐压。
・需要串联数栅极电压用浮动电源。
・串联时,导通电阻的温度系数变为正,为防止热失控,请考虑产品偏差和充分的电流降额。
・串联后作为高耐压单开关使用时,推荐并列插入大电阻进行适当分压。
・若不符合开关时序,则将破坏耐压。
FAQ ID: 486
SiC分立元器件和模块产品的漏-源额定电流为什么不同?
因为使用温度条件不同。
模块:结温(Tj)150℃,外壳温度(Tc)60℃
MOSFET:结温(Tj)175℃,外壳温度(Tc)25℃
FAQ ID: 487
SiC-MOSFET并联时,最适合的外置栅极电阻值是多少?
栅极信号的布线长度若均等,则为1~3Ω左右。
请把电阻连接于相应的MOSFET,并排列栅极信号的时序。
另外,布线长度显著不同时,可插入有余量的电阻值(10Ω左右),并排列开关时序。
FAQ ID: 488
针对SiC-MOSFET、模块产品的栅极驱动电路,有推荐的电路结构或电路参数吗?
有栅极驱动电路的参考电路板。(假设直接安装于SiC模块产品的驱动电路板。)
SiC-MOSTEF并联时,请将外置栅极电阻连接于相应的MOSFET,取得栅极信号的平衡。
FAQ ID: 489
SiC产品驱动时栅极信号上为什么有过冲或下冲?
受到电路板的寄生电容或寄生电感的影响,需要考虑LC谐振。请确认以下项目。
①连接栅极驱动电路的外置栅极电阻
②栅极驱动电路的输出电容
③栅极驱动电路的布线寄生电感
④SiC-MOSFET栅极电容
⑤SiC-MOSFET内部栅极电阻 等
若电阻小,则过冲、下冲的峰值变大,且阻尼振荡衰减需要时间。
另外,电容大,则峰值变小,开关速度变慢。
电感大,则峰值变大。
FAQ ID: 490
使用SiC产品时,防止栅极信号过冲和下冲的方法有哪些?
受到电路板寄生电容和寄生电感等的影响,需要考虑LC谐振,请确认以下项目。
①提高栅极驱动电路的外置栅极电阻。
②减小栅极驱动电路的输出电容。
③减小栅极驱动电路的布线寄生电感。
电阻小,则过冲和下冲的峰值变大,并且阻尼振荡衰减需要时间。电容大,则开关速度变慢。请尽量减小电感。
FAQ ID: 491
SiC-MOSFET、SiC模块产品的栅极驱动电压脱离推荐值(导通时+22V~+18V、关断时-3V~-6V)时,会发生什么情况?
导通时栅极驱动电压低于15V,则不能充分导通,低于14V以下,则导通电阻的温度特性从正变为负。
温度变高,则导通电阻下降,有热失控的危险性,因此请确保施加15V以上电压。
TZDB为40V以上,因此没有栅极损坏的顾虑,但持续施加超过额定值(-6V/+22V)的DC电压时,将受到栅极氧化膜界面的陷阱影响,阈值逐渐变化。
瞬时浪涌电压(300nsec以内)受阈值电压变动的影响小,允许有-10V~+26V范围的变动。
FAQ ID: 492
SiC-MOSFET、SiC模块产品的栅极驱动电压需要负 偏压吗?
FET OFF状态下漏极电位上升时,基于栅-漏间电容的AC耦合现象,栅极电位可能上升。代表性的应用有串联的电桥驱动。
为防止基于误导通的短路破坏,推荐使用负偏压。
增加栅极-漏极间的电容也能抑制栅极电位上升。
另外,通过栅极-漏极间连接米勒钳位MOSFET实现彻底短路,可防止栅极电位上升。请注意因噪音引起米勒钳位MOSFET误工作。
FAQ ID: 493
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